高頻雷達(dá)物位計(jì)

高頻雷達(dá)物位計(jì)

原理&結(jié)構(gòu)

導(dǎo)波雷達(dá)是基于時(shí)間行程原理的測(cè)量?jī)x表，雷達(dá)波以光速運(yùn)行，運(yùn)行時(shí)間可以通過電子部件被轉(zhuǎn) 換成物位信號(hào)。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳導(dǎo)，當(dāng)脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來被儀表 內(nèi)的接收器接收，并將距離信號(hào)轉(zhuǎn)化為物位信號(hào)。 

高頻雷達(dá)物位計(jì)

輸入

反射的脈沖信號(hào)沿纜式或桿式探頭傳導(dǎo)至儀表電子線路部分，微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，識(shí)別 出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由智能軟件完成，距離物料表面的距離D與 脈沖的時(shí)間行程T成正比：D=C×T/2  其中C為光速因空罐的距離E已知，則物位L為： L=E-D

輸出

通過輸入空罐高度E（=零點(diǎn)），滿罐高度F（=滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來設(shè)定，應(yīng)用參數(shù)將自動(dòng)使儀表適應(yīng)測(cè)量環(huán)境。對(duì)應(yīng)于4…20mA輸出。 

測(cè)量范圍

F----測(cè)量范圍

E----空罐距離

B----頂部盲區(qū)

H----探頭到罐壁的最小距離頂部盲區(qū)是指物料最高料面與測(cè)量參考點(diǎn)之間的最小距離。底部盲區(qū)是指纜繩最底部附近無法精確測(cè)量的一段距離。頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測(cè)量距離。

注意：

只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時(shí)，才能保證罐內(nèi)物位的可靠測(cè)量。

技術(shù)參數(shù)

RR30A型-線纜式

RR30B型-桿式

RR30C型-雙桿式

RR30C1型-低介電式

測(cè)量距離

下表列出不同類別被測(cè)介質(zhì)與測(cè)量距離的關(guān)系

干擾的優(yōu)化

干擾回波抑制：軟件可實(shí)現(xiàn)對(duì)干擾回波的抑制，從而達(dá)到理想測(cè)量效果

旁通管及導(dǎo)波管（僅適用于液體）對(duì)于粘度不大于500cst，可采用旁通管，導(dǎo)波管或同軸管式雷達(dá)來避免干擾。

腐蝕性介質(zhì)測(cè)量

如果測(cè)量腐蝕性介質(zhì)，可選用桿式探頭套一個(gè)塑料套管或四氟套管進(jìn)行測(cè)量。

導(dǎo)波雷達(dá)探頭末端的固定

探頭末端如需要固定場(chǎng)合應(yīng)用有兩種固定方式：一種是絕緣固定；另外一種是非絕緣固定。

絕緣固定：被測(cè)介質(zhì)的介電常數(shù)較低且固定在金屬罐底時(shí)需要絕緣固定。

非絕緣固定：被測(cè)介質(zhì)介電常數(shù)很高，罐體為非金屬材料、介電常數(shù)很低的材料或與被測(cè)介質(zhì)介電常數(shù)十分接近的材料，這時(shí)可以采用非絕緣固定。

※備注：如用戶不能確定絕緣固定或非絕緣固定，請(qǐng)直接與廠家聯(lián)系。